LYZZC-3340變壓器電阻測(cè)試儀三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。三相測(cè)試時(shí)先測(cè)試A0的數(shù)據(jù)，再三相同時(shí)測(cè)試，解決了三相同時(shí)測(cè)試中性點(diǎn)引出線電阻不能測(cè)試的問題，測(cè)試數(shù)據(jù)更接近單相測(cè)試值。

LYZZC-III高性能變壓器電阻測(cè)試儀注意事項(xiàng)

變壓器電阻測(cè)試儀采用全新電源技術(shù)，電流檔位多，測(cè)量范圍寬，可根據(jù)負(fù)載自動(dòng)選擇電流，適合中小型變壓器和電壓互感器的直流電阻測(cè)量。護(hù)功能完善，能可靠保護(hù)反電勢(shì)對(duì)儀器的沖擊，性能更可靠。全功能變壓器直流電阻測(cè)試儀具有聲響放電報(bào)警，放電指示清晰，減少誤操作。智能化功率管理技術(shù)，儀器總是工作在Z小功率狀態(tài)，有效減輕儀器內(nèi)部發(fā)熱，節(jié)約能源。

LYZZC-3340變壓器電阻測(cè)試儀價(jià)格三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。三相測(cè)試時(shí)先測(cè)試A0的數(shù)據(jù)，再三相同時(shí)測(cè)試，解決了三相同時(shí)測(cè)試中性點(diǎn)引出線電阻不能測(cè)試的問題，測(cè)試數(shù)據(jù)更接近單相測(cè)試值。

LYZZC-3340變壓器電阻測(cè)試儀三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。三相測(cè)試時(shí)先測(cè)試A0的數(shù)據(jù)，再三相同時(shí)測(cè)試，解決了三相同時(shí)測(cè)試中性點(diǎn)引出線電阻不能測(cè)試的問題，測(cè)試數(shù)據(jù)更接近單相測(cè)試值。

LYZZC-3340感性負(fù)載直流電阻測(cè)試儀三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的全部測(cè)試數(shù)據(jù)，并自動(dòng)計(jì)算出三相不平衡度，還可以打印折算到額定溫度下的阻值。

LYZZC-3340直流電阻測(cè)量儀三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。三相測(cè)試時(shí)先測(cè)試A0的數(shù)據(jù)，再三相同時(shí)測(cè)試，解決了三相同時(shí)測(cè)試中性點(diǎn)引出線電阻不能測(cè)試的問題，測(cè)試數(shù)據(jù)更接近單相測(cè)試值。

LYZZC-3340直流電阻儀單相變壓器使用將高壓測(cè)試線（較長的）中黃色和綠色的測(cè)試鉗接到單相變壓器的高壓側(cè)，低壓測(cè)試線（較短的）中黃色和綠色的測(cè)試鉗接到單相變壓器的低壓側(cè)，測(cè)試線另一端與儀器的接線端子對(duì)應(yīng)連接。三繞組變壓器可以將高低壓繞組測(cè)試完后，將高壓測(cè)試線（較長的）的四個(gè)測(cè)試鉗倒接到中壓側(cè)測(cè)試即可。

LYZZC-3340直流電阻測(cè)試儀兩繞組變壓器測(cè)試時(shí)依次將高壓測(cè)試線（較長的）的四個(gè)測(cè)試鉗（黃綠紅黑）分別接到高壓側(cè)的A、B、C、O套管上，如果只有A、B、C三個(gè)套管，可以將黑色測(cè)試鉗懸空；測(cè)試線另一端與儀器的接線端子對(duì)應(yīng)連接。將低壓測(cè)試線（較短的）的三個(gè)測(cè)試鉗（黃綠紅）分別接到低壓側(cè)的a、b、c、套管上，測(cè)試線另一端與儀器的接線端子對(duì)應(yīng)連接。

LYZZC-3340變壓器直流電阻測(cè)試儀三相五柱低壓內(nèi)部角接的變壓器低壓測(cè)試時(shí)，儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快。三相測(cè)試時(shí)先測(cè)試A0的數(shù)據(jù)，再三相同時(shí)測(cè)試，解決了三相同時(shí)測(cè)試中性點(diǎn)引出線電阻不能測(cè)試的問題，測(cè)試數(shù)據(jù)更接近單相測(cè)試值。